SXJS-IV型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

一、概說

SXJS-IV型系列智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印，使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗*力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。SXJS-IV體積小、重量輕，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

二、技術(shù)指標(biāo)

1、環(huán)境溫度：0~40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）

2、相對(duì)濕度：30％~70％

3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±1Hz

4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=4900mm×300mm×390mm

5、重量：約18kg

6、輸出功率：1KVA

7、顯示分辨率：4位

8、測(cè)量范圍：

介質(zhì)損耗（tgδ）：0-50％

電容容量（Cx）和加載電壓：

2.5KV檔：≤300nF（300000pF）

3KV檔：≤200nF（200000pF）

5KV檔：≤76nF（76000pF）

7.5KV檔：≤34nF（34000pF）

10KV檔：≤20nF（20000pF）

9、基本測(cè)量誤差：

介質(zhì)損耗（tgδ）：1％±0.07％（加載電流20μA~500mA）正接

介質(zhì)損耗（tgδ）：2％±0.09％（加載電流5μA~20mA）反接

電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF

三、結(jié)構(gòu)

儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量對(duì)無(wú)需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。

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